«МАТИ»-РГТУ
им. К. Э. Циолковского
тема: «Определение параметров p-n перехода»Кафедра: "Xxxxxxxxxx xxxxxxxxxx
xxxxxxxxxxxxxxxx"
Курсовая работастудент Хxxxxxxx X. X. группа XX-X-XX |
дата сдачи |
оценка |
г. Москва 2001 год
Оглавление:
1. Исходные данные | 3 | |
2. Анализ исходных данных | 3 | |
3. Расчет физических параметров p- и n- областей | 3 | |
а) эффективные плотности состояний для зоны проводимости и валентной зоны | 3 | |
б) собственная концентрация | 3 | |
в) положение уровня Ферми | 3 | |
г) концентрации основных и неосновных носителей заряда | 4 | |
д) удельные электропроводности p- и n- областей | 4 | |
е) коэффициенты диффузий электронов и дырок | 4 | |
ж) диффузионные длины электронов и дырок | 4 | |
4. Расчет параметров p-n перехода | 4 | |
a) величина равновесного потенциального барьера | 4 | |
б) контактная разность потенциалов | 4 | |
в) ширина ОПЗ | 5 | |
г) барьерная ёмкость при нулевом смещении | 5 | |
д) тепловой обратный ток перехода | 5 | |
е) график ВФХ | 5 | |
ж) график ВАХ | 6, 7 | |
5. Вывод | 7 | |
6. Литература | 8 |
1. Исходные данные | |||||||
1) материал полупроводника – GaAs 2) тип p-n переход – резкий и несимметричный 3) тепловой обратный ток () – 0,1 мкА 4) барьерная ёмкость () – 1 пФ 5) площадь поперечного сечения ( S ) – 1 мм2 6) физические свойства полупроводника | |||||||
| |||||||
| Ширина запрещенной зоны, эВ | Подвижность при 300К, м2/В×с | Эффективная масса | Время жизни носителей заряда, с | Относительная диэлектрическая проницаемость | ||
| электронов | Дырок | электрона mn/me | дырки mp/me | |||
|
|
|
|
|
|
|
|
| 1,42-8 | 0,85-8 | 0,04-8 | 0,067-8 | 0,082-8 | 10-8 | 13,1-8 |
|
| ||||||
2. Анализ исходных данных | |||||||
1. Материал легирующих примесей: а) S (сера) элемент VIA группы (не Me) б) Pb (свинец) элемент IVA группы (Me) 2. Концентрации легирующих примесей: Nа=1017м -3, Nд=1019м -3 3. Температура (T) постоянна и равна 300К (вся примесь уже ионизирована) 4. – ширина запрещенной зоны 5. , – подвижность электронов и дырок 6. , – эффективная масса электрона и дырки 7. – время жизни носителей заряда | |||||||
8. – относительная диэлектрическая проницаемость | |||||||
3. Расчет физических параметров p- и n- областей | |||||||
а) эффективные плотности состояний для зоны проводимости и валентной зоны б) собственная концентрация в) положение уровня Ферми (рис. 1) (рис. 2) | |||||||
|
| ||||||||||||||||||||||||
(рис. 1) | (рис. 2) | ||||||||||||||||||||||||
г) концентрации основных и неосновных носителей заряда | |||||||||||||||||||||||||
д) удельные электропроводности p- и n- областей | |||||||||||||||||||||||||
е) коэффициенты диффузий электронов и дырок | |||||||||||||||||||||||||
ж) диффузионные длины электронов и дырок
| |||||||||||||||||||||||||
4. Расчет параметров p-n перехода | |||||||||||||||||||||||||
a) величина равновесного потенциального барьера
б) контактная разность потенциалов |
в) ширина ОПЗ (переход несимметричный à ) | ||
г) барьерная ёмкость при нулевом смещении д) тепловой обратный ток перехода | ||
е) график ВФХ | ||
– общий вид функции для построения ВФХ | ||
ж) график ВАХ | ||
– общий вид функции для построения ВАХ | ||
Ветвь обратного теплового тока (масштаб) | ||
| Ветвь прямого тока (масштаб) | |
Вывод. При заданных параметрах полупроводника полученные значения удовлетворяют физическим процессам: - величина равновесного потенциального барьера () равна , что соответствует условию >0,7эВ | ||
| ||
- барьерная емкость при нулевом смещении () равна 1,0112пФ т.е. соответствует заданному ( 1пФ ) | ||
- значение обратного теплового тока () равно 1,92×10-16А т.е. много меньше заданного ( 0,1мкА ) | ||
Литература: 1. Шадский В. А. Конспект лекций «Физические основы микроэлектроники» 2. Шадский В. А Методические указания к курсовой работе по курсу «ФОМ». Москва, 1996 г. 3. Епифанов Г. И. Физические основы микроэлектроники. Москва, «Советское радио», 1971 г. | ||
Похожие работы
... параметров модели транзистора, зависимости этих параметров от температуры и конструкции, рассмотрены методы экстракции параметров модели из экспериментальных характеристик. Анализ PSpice модели БТ показал, что наряду с достоинствами этой модели есть и существенные недостатки. В целом модель биполярного транзистора в PSpice может с высокой точностью и в широком диапазоне напряжений, токов и ...
... характеристика диода Рисунок 2. - Вольтамперная характеристика стабилитрон Рисунок 3. - Входные и выходные характеристики транзистора 5. Определение параметров полупроводниковых приборов по их статическим вольтамперным характеристикам 1) Диод Д202: S - крутизна вольтамперной характеристики; Ri- внутреннее сопротивление по переменному току; R0 - внутреннее сопротивление по ...
... профиля давления — время химической реакции, и по нему можно рассчитать ширину ЗХР-а. , (18) где — средняя скорость потока в ЗХР. На практике для определения параметров детонации оказалось удобно измерять D и профиль массовой скорости U=U(t). Для измерения массовой скорости чаще всего пользуются откольным и электромагнитным методами. 2.1.1 Откольный метод ...
... 2.1. Предел статичности «черных дыр» в двоичной модели распределения плотности вещества 2.2. Горизонт «черных дыр» в двоичной модели распределения плотности вещества 3. Природа «темной материи» в двоичной модели распределения плотности вещества 4. Выводы 5. Подтверждения 6. Приложения 6.1. Фазовые переходы вещества в двоичной модели распределения плотности вещества 6.2. «Эффект темного ...
0 комментариев