2. Измерение интегральной чувствительности фотокатода
Принцип измерения. Интегральную чувствительность фотокатода определяют измерением фототока с рабочей площади фотокатода, вызванного световым потоком от источника света с цветовой температурой 2860 К, падающим на рабочую площадь фотокатода [6].
Примечание. Интегральная чувствительность фотокатода может быть измерена только у ЭОП без встроенного высоковольтного источника питания (ВИП).
Измерительная аппаратура. Функциональная схема установки для измерения чувствительности фотокатода ЭОП приведена на рис. 2,
Расстояние L между телом накала лампы и диафрагмой с калиброванным отверстием следует выбирать таким, чтобы фототок регистрировался на второй половине шкалы измерительного прибора, а при использовании цифрового измерительного прибора не менее, чем тремя значащими цифрами.
Рис.2. Схема установки для измерения интегральной чувствительности фотокатода ЭОП:
1 - источник света (лампа накаливания); 2 - светозащитная диафрагма, 3 - заслонка; 4 - светофильтр; 5 - диафрагма с калиброванным отверстием; 6 -держатель ЭОП; 7 - испытуемый ЭОП; 8 - измерительный прибор.
Значение верхнего предела фототока указывается в технических условиях на ЭОП конкретного типа. Максимальная погрешность измерения расстояния L не должна превышать 0,2%. Расстояние L, м, должно также удовлетворять условию:
, (2)
где - максимальный поперечный размер тела накала лампы, м; d - диаметр калиброванного отверстия в диафрагме, м.
Расстояние между диафрагмой с калиброванным отверстием и фотокатодом ЭОП должно быть минимально возможным.
При измерении чувствительности фотокатода со светофильтром в схему вводят светофильтр, который устанавливается перед диафрагмой с калиброванным отверстием. Характеристику светофильтра указывают в стандартах или технических условиях на ЭОП конкретного типа.
Подготовка и проведение измерений. ЭОП устанавливают в держатель и подают на него напряжение, указанное в стандартах или технических условиях на ЭОП конкретного типа. На градуированной лампе накаливания устанавливают режим, обеспечивающий цветовую температуру 2860 К. Заслонкой перекрывают световой пучок и измеряют ток в цепи фотокатода . Заслонку выводят и измеряют ток в цепи фотокатода .
Обработка результатов измерений. Интегральную чувствительность фотокатода S, мкА/Лм, вычисляют по формуле
, (3)
где - разность токов , мкА; J- сила света источника света, кд; d - диаметр калиброванного отверстия в диафрагме, м; L - расстояние между телом накала лампы и диафрагмой с калиброванным отверстием, м; - спектральный коэффициент, учитывающий различие спектрального состава излучения используемых ламп за пределами видимой области спектра.
Методика определения спектрального коэффициента приведена в ГОСТ 21815.0-86, приложение 2.
Суммарная относительная погрешность измерения интегральной чувствительности фотокатода при соблюдении указанных выше требований составляет не более 7,5% при доверительной вероятности 0,95.
3. Измерение коэффициента преобразования
Принцип измерения. Принцип измерения состоит в определении отношения светового потока, излучаемого экраном изделия, к световому потоку, падающему на фотокатод [7].
Аппаратура. Функциональная схема установки для измерения коэффициента преобразования показана на рис. 3, 4.
При измерении коэффициента преобразования с фильтром в схему рис. 2 вводят светофильтр, который устанавливают перед диафрагмой с калиброванным отверстием. Характеристики светофильтра указывают в технических условиях на ЭОП конкретного типа.
Подготовка к измерениям. Испытуемый ЭОП устанавливают в держатель и соединяют с источником питания. На источник
Рис. 3. Схема установки для измерения коэффициента преобразования ЭОП:
1 - осветитель; 2,4 - светозащитные диафрагмы; 3 - заслонка;
5 - светофильтр; 6-диафрагма с калиброванным отверстием; 7-держатель
ЭОП; 8 - ЭОП; 9 -диафрагма приемника излучения; 10 - приемник излучения; 11 - измерительный прибор; 12 - экран ЭОП; 13 - фотокатод ЭОП.
Света подают напряжение, обеспечивающее режим цветовой температуры 2860 К.
Примечание. Для измерения коэффициента преобразования определять силу света источника не требуется.
Расстояние L между телом накала лампы или апертурным отверстием осветителя и диафрагмой 6 (см. рис. 3) устанавливают и соответствии с требованием к освещенности фотокатода, указанным в технических условиях на ЭОП конкретного типа. (Пример расчета освещенности фотокатода от источника малой силы света приведен в приложении 6). Обычно для ЭОП первого поколения освещенность фотокатода составляет лк, для ЭОП второго и третьего поколений лк. Максимальное значение погрешности измерения расстояния L не должно превышать 0,2% измеряемого значения.
При выборе расстояния L, м, должно быть также выполнено условие
, (4)
где - максимальный размер тела накала лампы или апертурного отверстия осветителя, м; d - диаметр калиброванного отверстия в диафрагме, м.
На ЭОП подают напряжения, указанные в технических условиях на ЭОП конкретного типа. Расстояние l, м, между экраном ЭОП и диафрагмой приемника излучения (см. рис.12) должно удовлетворять условию
, (5)
где - диаметр изображения диафрагмы поз. 6 на экране, м; (, где -электронно-оптическое увеличение ЭОП); - диаметр отверстия в диафрагме перед приемником излучения, м.
Для ЭОП со стекловолоконным выходом должно соблюдаться соотношение
. (6)
При измерении отрезка необходимо использовать стержни-шаблоны, обеспечивающие измерение отрезка с погрешностью, не превышающей 0.5% измеряемого значения.
Рис. 4. Схема установки для получения градуировочного отсчета:
1 - осветитель; 2,4 - светозащитные диафрагмы; 3 - заслонка, 5 спою фильтр; 6 - диафрагма приемника излучения; 7 - приемник излучения, 8 - измерительный прибор.
Расстояние между телом накала лампы или выходным апертурным отверстием осветителя и диафрагмой приемника излучения (рис. 4) должно быть таким, чтобы фототок приемника излучения регистрировался на том же участке той же шкалы, что и фототок, регистрируемый при измерении по схеме рис. 3. Кроме того, расстояние должно удовлетворять условию.
, (7)
где - максимальный размер тела накала лампы или апертурного отверстия осветителя.
Максимальная погрешность измерения расстояния не должна превышать 0,2%.
Проведение измерений. По схеме, приведенной на рис. 3, при введенной заслонке измеряют фототок приемника - отсчет . Заслонку выводят из светового пучка, после чего измеряют фототок приемника - отсчет . По схеме, приведенной на рис. 4, при введенной заслонке определяют фототок приемника - отсчет . Заслонку выводят из светового пучка, после чего измеряют фототок приемника - отсчет .
Все измерения проводят на одном и том же пределе чувствительности измерительного прибора.
Обработка результатов измерений. Коэффициент преобразования вычисляют по формуле
, (8)
где L - расстояние между телом накала лампы или апертурным отверстием осветителя и диафрагмой с калиброванным отверстием, м; - расстояние между экраном и диафрагмой приемника излучения, м.
Для ЭОП с экраном, нанесенным на внутреннюю поверхность выходного стекла, в метрах вычисляют по формуле
, (9)
где - расстояние между наружной поверхностью выходного стекла и диафрагмой приемника, м; - толщина выходного стекла, м; - показатель преломления выходного стекла.
Для ЭОП с экраном, нанесенным на прозрачную пленку и установленным на некотором расстоянии от внутренней поверхности выходного стекла, в метрах вычисляют по формуле
, (10)
где - расстояние между экраном и внутренней поверхностью выходного стекла, м; - коэффициент пропускания корригирующего светофильтра; - спектральный коэффициент; - разность отсчетов и ; - расстояние между телом накала лампы или апертурным отверстием осветителя и диафрагмой приемника излучения, м; d - диаметр калиброванного отверстия диафрагму, м; разность отсчетов и (при градуировке).
Суммарная относительная погрешность измерения коэффициента преобразования при соблюдении требований настоящей методики не превышает 8% для однокамерных и герметизированных ЭОП, 10% для двухкамерных ЭОП и 14% для трехкамерных ЭОП при доверительной вероятности 0,95.
... установленными друг против друга. Эти зеркала имеют серебряное либо диэлектрическое отражающее покрытие, состоящее из нескольких слоев диэлектриков, каждый из которых обладает различными оптическими характеристиками. Серебряное покрытие по сравнению с диэлектрическим обладает меньшим коэффициентом отражения и большими потерями. В процессе эксплуатации серебряные покрытия портятся и требуют замены ...
... под действием ультрафиолета фотоэлектроны. Фокусируя электроны в плоскости флуоресцирующего экрана ЭОПа можно получить видимое изображение исследуемого объекта. 2. Измерительный контроль в оптической (световой) микроскопии При производстве комплектующих изделий для ЭА и СМЭ, в условиях наиболее распространённой в настоящее время планарно-эпитаксиальной технологии, неразрушающий 100% -ный ...
... , асбестоцементных, полимерных, рулонных кровельных и гидроизоляционных материалов и строительного стекла 2. Строительные конструкции Номенклатура показателей качества каменных и армокаменных, бетонных и железобетонных, металлических, асбестоцементных и деревянных конструкций 3. Инженерное оборудование зданий и сооружений Номенклатура показателей качества санитарно-технического ...
... , внедрение прогрессивного оборудования, повышение эффективности методов контроля качества металла, активное внедрение комплексной системы управления качеством продукции, постоянное повышение трудовой, производственной и исполнительской дисциплины. Неразрушающий контроль качества методами дефектоскопии Дефектоскопия–комплекс методов и средств неразрушающего контроля материалов и изделий с ...
0 комментариев