12. Литература

1)  В.С.Гутников “Интегральная электроника в измерительных устройствах”, Л.:Энргоатомиздат, 1988

2)  А.Л.Булычев, В.И.Галкин “Аналоговые интегральные схемы”, Мн.: Беларусь, 1994

3)  М.И.Богданович, И.Н.Грель “Цифровые интегральные микросхемы”: справочник, Mн.: Беларусь, 1991

4)  В.Л.Шило “Популярные цифровые микросхемы”: справочник, М.: Радио и связь, 1987

5)  Р.Джордейн “Справочник программиста персональных компьютеров типа IBM PC XT и AT”: пер с англ. М: Финансы и статистика, 1992

6)  С.Т.Усатенко, Т.К,Каченюк, М.В.Терехова. “Выполнение электрических схем по ЕСКД”: справочник, М.: Издательство стандартов, 1989. - 325| с.

7)  Д.В.Стефанков “Справочник программиста и пользователя”. - М:“Кварта”, 1993.- 128с.

8)  Под ред. М.Дадашова “Проектирование пользовательского интерфейса на персональных компьютерах. Стандарт фирмы IBM.” - M: фирма “ЛЕВ”, 1992. - 186с.

9)  Коутс Р., Влейминк И. “Интерфейс Человек-Компьютер”: пер. с англ. - M.: Мир, 1990. - 501с.

10) П.Нортон, Д.Соухэ “Язык Ассемблера для IBM PC”: Пер. с англ., - M.: Издательство “Компьютер”, 1993г. - 352с.

11) Каган Б.М., Мкртумян И.Б. “Основы эксплуатации ЭВМ”: Учеб. пособие для вузов/ Под ред. Б.М.Кагана. - М.: Энергоатомиздат, 1983.-376с., ил.


13. Приложения

 

1) Перечень элементов к принципиальным схемам, описанным в разделе 5.


Поз. обоз-начение Наименование Кол Примечание

 

Диоды и стабилитроны

VD1..VD64 КД522А 64
VD65 КС818Г 1
VD66 Д814А 1
VD67 КС147А 1
VD68 КС818Г 1

VD69..

VD76

КД202В 8
VD77 КС168А 1
HL1 АЛ307Б 1

 

Конденсаторы

C1, C2 К50-16 - 16в-10мкф 2
C3 КМ-3б-Н30 - 0.1мкф ±20% 1
C4 К50-16 - 16в-100мкф 1
C5, C6 К50-6 - 16в-2000мкф 2
C7, C8 К50-16 - 16в-100мкф 2

 

Микросхемы аналоговые ГОСТ 18682-83

DA1 К142ЕН1А 1
DA2 К142ЕН5А 1
DA3, DA4 К572ПА1А 2
DA5 К554СА3А 1
DA6 К140УД6 1
ППИ СПГТУ 2201.97.01 ПЭ1
Изм Лист N докум. Подп. Дата
Разраб. Лит. Лист Листов

 

Пров. Сигнатурный анализатор 1 3

 

 

N контр. Перечень элементов

 

Утв.

 

Поз. обоз-начение Наименование Кол Примечание

 

Микросхемы цифровые ГОСТ 17021-75

DD1 К555ИД7 1
DD2..DD8 К555ИР27 7
DD9, DD10 К555ИД7 2
DD11 К155ЛП4 1
DD12 К561ТМ2 1

DD13..

DD16

К555КП11 4

Переключатели

SA1 ПКН-41 1

Предохранители

FU1 0.5А 1

Разъемы

X3 Панель SLC-32, 32pin 1
LPT-порт DB25-M, 25pin 1

 

Резисторы

R1..R32 МЛТ-0.125 - 100К ±10% 32
R33..R64 МЛТ-0.125 - 27К ±10% 32
R65..R96 МЛТ-0.125 - 4.3К ±10% 32
R97..R128 МЛТ-0.125 - 100К ±10% 32
R129..R160 МЛТ-0.125 - 10К ±10% 32
R161 МЛТ-0.125 - 390 ±10% 1
R162 МЛТ-0.125 - 270 ±10% 1
R163, R164 МЛТ-0.125 - 1К ±10% 2
R165, R166 МЛТ-0.125 - 360К ±10% 2
R167 МЛТ-0.125 - 10К ±10% 1
Лист
ППИ СПГТУ 2201.97.01 ПЭ1 2
Изм Лист N докум. Подп. Дата
Поз. обоз-начение Наименование Кол Примечание
R168 МЛТ-0.125 - 100К ±10% 1
R169, R170 МЛТ-0.125 - 10К ±10% 2
R171 C5-16-0.125 - 0.1 ±1% 1
R172..R180 МЛТ-0.125 - 430 ±10% 9
R181..R194 МЛТ-0.125 - 10К ±10% 14
R195 МЛТ-0.125 - 100К ±10% 1
R196 МЛТ-0.125 - 910 ±10% 1
R197 МЛТ-0.125 - 1К ±10% 1
R198 СП5-3ВА-0.5 - 4.7К ±10% 1
R199 МЛТ-0.125 - 390 ±10% 1
R200 МЛТ-0.125 - 10К ±10% 1

 

Транзисторы

VT1..

VT32

КП303 32

VT33..

VT64

КП301 32

VT65..

VT97

КТ315Б 33
VT98 КТ815Б 1

VT99..

VT104

КТ814Б 6

VT105..

VT107

КТ815Б 3

VT108..

VT111

КТ361Б 4
VT112 КТ315Б 1
VT113 КТ361Б 1
VT114 КТ815Б 1

Трансформаторы

T1 ТПП207-127/220-50 1
Лист
ППИ СПГТУ 2201.97.01 ПЭ1 3
Изм Лист N докум. Подп. Дата

2) Основные параметры тестируемых микросхем.

а) ТТЛ микросхемы [3,4] (при Uпит.=5в):

Параметр К155 К555 К531 КР1531

U1вх. мин., В

2 2 2 2

U0вх. макс., В

0.8 0.8 0.8 0.8

U0вых. макс., В

0.4 0.5 0.5 0.5

I0вых. макс., мА

16 8 20

U1вых. мин., В

2.4 2.7 2.7 2.7

I1вых., макс., мА

-0.8 -0.4 -1

I1вых. макс. с ОК, мкА

250 100 250

I1вых. макс. сост. Z, мкА

40 20 50

I0вых. макс. сост. Z, мкА

-40 -20 -50

I1вх. макс., мкА

40 20 50 20

I0вх. макс., мА

-1.6 -0.4 -2.0 -0.6

Iк.з. макс., мА (U0вых=0)

-(18¸55) -100 -100 -(60¸150)

tзд. Р., нс

9 9.5 3 3

Rн, кОм

0.4 2 0.28 0.28

Pпот., мВт

10 2 19 4

б) КМОП микросхемы [3,4] (при Uпит.=10в):

Параметр К176 К561 КР1561

U1вх. мин., В

7 7 7

U0вх. макс., В

3 3 3

Iвх. макс., мкА

0.1 0.2 0.3

U0вых. макс., В

0.3 2.9 1

I0вых. макс., мА

0.3 1.1

U1вых. мин., В

8.2 7.2 9

I1вых. макс., мА

0.3 -1.1

tзд. Р., нс

600 620 190

3) Описание и распайка LPT-порта (нормальный режим) [7].

Порт Бит Контакт разъема Описание
378H

0

1

2

3

4

5

6

7

2

3

4

5

6

7

8

9

используется для записи

-“”-

-“”-

-“”-

-“”-

-“”-

-“”-

-“”-

379H

0-2

3

4

5

6

7

-

15

13

12

10

11

не используются

используется для чтения

-“”-

-“”-

-“”-

-“”-

37AH

0

1

2

3

4-7

1

14

16

17

-

используется для записи

-“”-

-“”-

-“”-

не используются


4) Подпрограмма инициализации устройства.

INIT PROC NEAR ; начало подпрограммы инициализации

push ax ; Запоминаем значения регистров ax и dx

push dx

mov dx, 378h

mov al, 7Fh

out dx, al ; 7FHÞ378H

mov dx, 37AH

mov al, 7

out dx, al ; 07HÞ37AH

mov al, 0Fh

out dx, al ; 0FHÞ37AH

mov dx, 378h

mov al, 0

out dx, al ; 00HÞ378H

mov dx, 37AH

mov al, 5

out dx, al ; 05HÞ37AH

mov al, 0Dh

out dx, al ; 0DHÞ37AH

mov al, 6

out dx, al ; 06HÞ37AH

mov al, 0Eh

out dx, al ; 0EHÞ37AH

pop dx ; Восстанавливаем значения регистров

pop ax ; dx и ax

INIT ENDP ; конец подпрограммы инициализации


5) Подпрограмма тестирования микросхемы.

b_data db 02h ; Данные по коммутации

db 05h ; Макс. ток

dw 4 ; Число циклов тестирования

; Далее идут 32 байта данных:

dd 00000000000000000000000000000000b ; запись

dd 00000000010010010100100000000000b ; сверка

dd 00000000001001000001001000000000b ; запись

dd 00000000010010010100100000000000b ; сверка

dd 00000000000100100010010000000000b ; запись

dd 00000000010010010100100000000000b ; сверка

dd 00000000001101100011011000000000b ; запись

dd 00000000010000000000000000000000b ; сверка

TESTING PROC NEAR ; начало подпрограммы

; тестирования

push bx ; сохраняем регистры в стеке

push cx

push dx

mov bx, offset cs:b_data ; регистр BX - указатель

; на данные

mov al, cs:[bx] ; загрузка в AL данных по

; коммутации

mov ah, 7 ; выбор регистра коммутации (DD6)

call write_r ; запись AL в регистр коммутации

and al, 01000000B ; выделяем 6-й бит

; (тип микросхемы)

jnz kmop

mov al, 142 ; напряжение питания - +5в,

; если ТТЛ

jmp end_u

kmop: mov al, 255 ; напряжение питания - +9в,

; если КМОП

end_u: mov ah, 5 ; выбор регистра управления

; напряжением (DD7)

call write_r ; запись AL в регистр управления

; напряжением

inc bx ; ставим указатель на макс. ток

mov al, cs:[bx] ; загрузка в AL данных по току

add al, 7 ; коррекция данных по току на 7мА

mov al, 6 ; выбор регистра управления током

; (DD8)

call write_r ; запись AL в регистр управления

; током

inc bx ; ставим указатель на число

; циклов

mov cx, cs:[bx] ; загружаем число циклов в

; регистр CX

inc bx

cycle: mov dl,0 ; внешний цикл записи (по CX)

wr1: mov al, cs:[bx] ; внутренний цикл записи

; в 4 регистра (DD2-DD5)

call write_r ; по регистру DL

inc bx

inc dl

cmp dl, 4

jnz wr1

mov dl,0

rd1: mov ah, dl ; внутренний цикл чтения и

; сравнения данных, считанных из

call read_r ; 4-х мультиплексоров (DD13-DD16)

mov ah, cs:[bx] ; и указателя [BX];по регистру DL

cmp al, ah

jnz error

inc bx

inc dl

cmp dl, 4

jnz rd1

loop cycle

good: mov al, 0 ; выход из п/п с AX=0 в случае,

; если все OK

jmp exit

error: mov al, 0FFH ; выход из п/п с AX=0FFH в случае

; ошибки

exit: pop dx ; восстанавливаем регистры при

; выходе

pop cx

pop bx

TESTING ENDP

WRITE_R PROC NEAR

; процедура записи значения в регистры DD2-DD8

; Входные параметры: AL - записываемое значение

; AH - номер регистра

; (0-DD2, 1-DD3, 2-DD4, 3-DD5, 5-DD7, 6-DD8, 7-DD6)

push ax ; сохраняем используемые регистры

; в стеке

push dx

mov dx, 378H

not al ; инвертируем значение

out dx, al

mov dx, 37AH

mov al, ah

out dx, al

or al, 00001000b ; устанавливаем 3-й бит для

; записи в порт 37AH

out dx, al ; запись данных в регистр

pop dx ; восстанавливаем значения

; регистров из стека

pop ax

WRITE_R ENDP

READ_R PROC NEAR

; процедура чтения данных из мультиплексоров DD13-DD16

; Входные параметры: AH - номер мультиплексора

; (0-DD13, 1-DD14, 2-DD15, 3-DD16)

; Выходные параметры: AL - считанное значение

push cx ; сохраняем используемые регистры

; в стеке

push dx

mov dx, 37AH

mov al, ah

 out dx, al ; выбираем мультиплексор записью

; AL в 37AH

mov al, 0 ; записываем 0 в регистр 378H для

; выбора для чтения

mov dx, 378H ; "младшей" половины

; мультиплексора

out dx, al

mov dx, 379H

in al, dx ; считываем данные "младшей"

; половины мультиплексора

mov ah, al ; сохраняем их в AH

mov al, 1 ; записываем 0 в регистр 378H для

; выбора для чтения "старшей"

mov dx, 378H ; половины мультиплексора

out dx, al

mov dx, 379H

in al, dx ; считываем данные "старшей"

; половины мультиплексора

; далее производим сборку считанных "половинок" из

; мультиплексоров по 4-е байта в 8 байт данных:

mov cl, 4

ror ah, cl ; сдвигаем данные в AH

; из 4-7 в 0-3 биты

and ah, 00001111b ; сбрасываем 4-7 биты в AH

and al, 11110000b ; сбрасываем 0-3 биты в AL

or al, ah ; логически суммируем AL и AH

not al ; инвертируем AL

pop dx ; восстанавливаем значения

; регистров из стека

pop cx

READ_R ENDP


Информация о работе «Разработка для контроля и определения типа логических интегральных микросхем методом сигнатурного анализа»
Раздел: Радиоэлектроника
Количество знаков с пробелами: 94044
Количество таблиц: 26
Количество изображений: 0

Похожие работы

Скачать
43371
4
8

... 5 0110 6 6 0111 7 7 1000 8 8 1001 9 9 1010 A A 1011 C B 1100 F C 1101 H D 1110 P E 1111 U F Большинство изготовителей сигнатурных анализаторов пользуются таким же кодированием индицируемых данных, что и фирма Hewlett-Packard. Такое понятие, как почти ...

Скачать
26327
2
6

... (Свн =0)……………………….=< 65 нс Длительность импульса на выходе (Свн = 1000 пФ)………………………………. 2,76. 3,37 мкс Емкость нагрузки……………………………………………=< 200 пФ 9. Расчет параметров временной диаграммы функционирования стенда Автоматический стенд инициируется внешним сигналом «Пуск», Поступающим с пульта оператора. Этим сигналом ГПСП, СЧЦ и триггер разрешения работы (ТгРР) устанавливаются в ...

Скачать
509004
6
0

... ? 8. Какими программами можно воспользоваться для устранения проблем и ошибок, обнаруженных программой Sandra? Раздел 3. Автономная и комплексная проверка функционирования и диагностика СВТ, АПС и АПК Некоторые из достаточно интеллектуальных средств вычислительной техники, такие как принтеры, плоттеры, могут иметь режимы автономного тестировании. Так, автономный тест принтера запускается без ...

0 комментариев


Наверх