Differential coefficient of transmission of a current

14246
знаков
1
таблица
5
изображений

6.3. Differential coefficient of transmission of a current

 

In the equation (6.7) for an integrated (static) transmission factor of an emitter current . Coefficient of injection  the efficiency of emitter junction characterizes, and coefficient of diffusive transport  characterizes processes in basis, diffusive transport and recombination of carriers, with which attends this process; coefficient M is inlet for the account of processes in collector junction and almost always M=1. The equation of a collector current , where  is static parameter of fissile condition of insert (fissile condition), displays link between direct currents. Coefficient  is defined by the formula  and this formula displays link between stationary values of a control current  and value of an output current .

For variable signals, which amplitude order much less grades of supply voltages, link between collector currents and emitter is defined by derivation of a relation (6.7) as functions two arguments in the conjecture  =const, i.e.

, or

. (6.16)

 - differential transmission factor of an emitter current in circuit with CB, which always is more than integrated coefficient . Calculations display, that at major levels of injection, when  (see of the formula (6.1), (6.4)), derivative  aspires to zero and . Therefore for the analysis of a major signal integrated (static) coefficient  is always used.

In consequent viewing is not done variances between  and . Using a label , but in each case the applications of these magnitudes should be remembered a level of injection.

6.4. Ebers-Moll’s model

 

Links between currents and voltages in the transistor for four conditions of insert are well compounded with convenient and clear mathematical Ebers-Moll’s model, grounded on a dual circuit consisting of two diodes (emitter and collector), switched on meeting, and two current sources mapping interaction of these diodes (fig. 6.5).

(6.17)

. (6.18)

where  and  - thermal currents emitter and collector junctions accordingly, metered at short-circuit on exit and input accordingly ( =0 and  =0).

. (6.19)

where  and  - back currents of emitter and collector junctions measured accordingly at abruption of a collector and the emitter. With the account (6.18), (6.19) relations (6.17) are conversed to an aspect

; (6.20)

; (6.21)

. (6.22)

Fig. 6.5. Equivalent nonlinear Ebers-Moll’s model for BT

In computing methods of the analysis of transistor circuits with the help of a computer the wide circulation was received by nonlinear model of the Gummel-Pun’s transistor, which grounded on the solution of integrated relations for charges and links exterior electrical performances a charge in basis of transistor structure. It is very precise model explaining many physical effects, but its exposition needs major number of parameters, so for the analysis in a wide frequency range 25 parameters are necessary. The sequential simplification of Gummel-Pun’s model eventually reduces in the elementary Ebers-Moll’s model. Therefore at the analysis of the concrete circuits it is necessary to search for the reasonable compromise between an exactitude of the solution and complexity of model.


Информация о работе «Bipolar transistors»
Раздел: Коммуникации и связь
Количество знаков с пробелами: 14246
Количество таблиц: 1
Количество изображений: 5

Похожие работы

Скачать
35273
0
0

... состояния в закрытое при приложении обратного напряжения, уменьшении прямого тока или при подаче тока управления. Виды полупроводниковых приборов Полупроводниковый прибор (Halbleiterbauelement, Semiconductor device) – прибор, действие которого основано на использовании свойств полупроводника. Силовой полупроводниковый прибор (Halbleiterleistungsbauelement, Semiconductor power device) – ...

Скачать
16698
3
3

... Вопросы геттерирования подробно рассмотрены в [17] . 2. Определение времени жизни по стандарту ASTM F28-91 Cтандарт ASTM F28-91 определяет порядок и условия определения обьемного времени жизни носителей в германии и в кремнии. Эта стандарт основан на измерении спада импульсного тока вызванного импульсной засветкой образца. Другие стандарты измерения времени жизни: 1) DIN 50440 ...

Скачать
193480
0
0

... соответствующих компьютерных программ. Аналогично для n типа n>>p Для p соответственно будут иметь место следующие уравнения: (1.69)Воронков Э.Н. Твердотельная электроника. 2002г. Содержание Лекция 6 67 2. ДИОДЫ. 67 2.1. Полупроводниковые диоды с электронно-дырочным переходом (pn - переходом). 67 2.2. Электронно-дырочный переход (pn – переход). Возникновение ...

Скачать
3797
0
6

... температурной нестабильности каскада, как тепловое смещение входной характеристики Величина характеризует нестабильность тока , являющуяся также температурной нестабильности каскада Тогда получаем: Из стандартного ряда сопротивлений выбираем Расчет элементов, обеспечивающих заданное значение нижней граничной частоты каскада Рассчитаем емкость в цепи ОС Допустим, что доля ...

0 комментариев


Наверх